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Advanced test methods for SRAMs : effective solutions for dynamic fault detection in nanoscaled technologies. /
por Bosio, Alberto
Publicado 2010
Otros Autores: “...Dilillo, Luigi...”
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Advanced Test Methods for SRAMs : effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies /
Publicado 2010
Otros Autores: “...Dilillo, Luigi....”
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