Medidas topográficas en superficies atómicamente planas en condiciones ambiente mediante un microscopio de efecto túnel, un enfoque didáctico - Delgado Jiménez, Lilliana; Chacón Vargas, Sofía; Sabater Piqueres, Carlos; Sáenz Arce, Giovanni (2019)
Contiene resumen en inglés y portugués
Keywords: MICROSCOPIOS; CALIBRACIÓN; TOPOGRAFÍA