Scanning electron microscopy and X-Ray microanalysis - Goldstein, Joseph I. 1939; Newbury, Dale E.; Michael, Joseph R.; Ritchie, Nicholas W. M.; Scott, John Henry J.; Joy, David C., 1943- (New York : Springer, 2018)
Incluye apéndice página 542 e índice página 547
Keywords: RAYOS X; MICROSCOPIA ELECTRÓNICA