RAPID EMBEDDED SYSTEM TESTING USING VERIFICATION PATTERNS. - TSAI, WEI-TEK
Sala de Colecciones abiertas
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R9171
COMP
Keywords: PROGRAMAS DE COMPUTACION; DESARROLLO DE PROGRAMAS; CIRCUITOS INTEGRADOS; COMPUTADORAS DIGITALES; REGRESION NO LINEAL; SISTEMAS ENCAJADOS; Artículos de revista