Cita APA

Orozco Serrano, E. (2011). Uso de difractómetro de rayos X para medir espesor de capas delgadas. Cartago, Costa Rica: E. Orozco S..

Citación estilo Chicago

Orozco Serrano, Edwin. Uso De Difractómetro De Rayos X Para Medir Espesor De Capas Delgadas. Cartago, Costa Rica: E. Orozco S., 2011.

Cita MLA

Orozco Serrano, Edwin. Uso De Difractómetro De Rayos X Para Medir Espesor De Capas Delgadas. Cartago, Costa Rica: E. Orozco S., 2011.

Precaución: Estas citas no son 100% exactas.