Uso de difractómetro de rayos X para medir espesor de capas delgadas. - Orozco Serrano, Edwin (Cartago, Costa Rica : E. Orozco S., 2011)
Apéndices
Proyecto de graduación (Licenciatura en Ingeniería en Materiales ) Instituto Tecnológico de Costa Rica, Escuela de Ciencia e Ingeniería de los Materiales, 2011
Bibliografía
ITCR
COTA
CSUCA2
META
Keywords: Capas delgadas; Difacción -- Rayos X; Plasma; Recubrimientos; Procesamiento de datos; Tesis