Determinación del mejor equipo y procedimiento para la medición del espesor capas delgadas, en el Instituto Tecnológico de Costa Rica - Chaves-Alfaro, Andrea (Cartago, Costa Rica : A. Chaves A., 2014)
Proyecto de graduación
Bibliografía
ITCR
COTA
CSUCA2
META
Keywords: Instituto Tecnológico de Costa Rica (TEC); Difracción; Microscopia electrónica; Confiabilidad; Factores físicos; Estadísticas; Tesis