Garg, R. (2010). Analysis and design of resilient VLSI circuits: Mitigating soft errors and process variations (1 edición.). Nueva York, Estados Unidos: Springer.
Citación estilo ChicagoGarg, Rajesh. Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits: Mitigating Soft Errors and Process Variations. 1 edición. Nueva York, Estados Unidos: Springer, 2010.
Cita MLAGarg, Rajesh. Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits: Mitigating Soft Errors and Process Variations. 1 edición. Nueva York, Estados Unidos: Springer, 2010.
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