Analysis and design of resilient VLSI circuits : mitigating soft errors and process variations - Garg, Rajesh (Nueva York, Estados Unidos : Springer, 2010)
Base de Datos SPRINGER
Referencias
ELEC
COMP
INGE
Keywords: Circuitos electrónicos; Radiación -- Efectos; Algoritmos; Circuitos -- Diseño; Automatización del diseño; Modelado; Libros electrónicos