Auger- and X-ray photoelectron spectroscopy in materials science : a user-oriented guide - Hofmann, Siegfried (Heidelberg, Alemania : Springer, 2012)
Base de Datos SPRINGER
Referencias.
FISI
QUIM
INGE
Keywords: Espectroscopía; Microscopía; Materiales -- Superficies; Películas delgadas; Física del estado sólido; Libros electrónicos