Cita APA

Maricau, E., & Gielen, G. (2013). Analog IC reliability in nanometer CMOS (1 edición.). Nueva York, Estados Unidos: Springer.

Citación estilo Chicago

Maricau, Elie, y Georges Gielen. Analog IC Reliability in Nanometer CMOS. 1 edición. Nueva York, Estados Unidos: Springer, 2013.

Cita MLA

Maricau, Elie, y Georges Gielen. Analog IC Reliability in Nanometer CMOS. 1 edición. Nueva York, Estados Unidos: Springer, 2013.

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