Maricau, E., & Gielen, G. (2013). Analog IC reliability in nanometer CMOS (1 edición.). Nueva York, Estados Unidos: Springer.
Chicago Style CitationMaricau, Elie, and Georges Gielen. Analog IC Reliability in Nanometer CMOS. 1 edición. Nueva York, Estados Unidos: Springer, 2013.
MLA CitationMaricau, Elie, and Georges Gielen. Analog IC Reliability in Nanometer CMOS. 1 edición. Nueva York, Estados Unidos: Springer, 2013.
Warning: These citations may not always be 100% accurate.