Analog IC reliability in nanometer CMOS - Maricau, Elie; Gielen, Georges (Nueva York, Estados Unidos : Springer, 2013)
Base de Datos SPRINGER
Referencias
ELEC
INGE
FISI
Keywords: Circuitos electrónicos; Circuitos analógicos; Circuitos -- Diseño; Nanotecnología; Transistores; Circuitos integarados CMOS; Libros electrónicos