Applied scanning probe methods IX : characterization - Bhushan, Bharat; Fuchs, Harald; Tomitori, Masahiko (Heidelberg, Alemania : Springer, 2007)
Base de Datos SPRINGER
Referencias
ELEC
INGE
META
FISI
Keywords: Materiales -- Microscopía; Nanotecnología; Polímeros; Espectroscopía; Microscopía; Superficies -- Física; Películas delgadas; Libros electrónicos