Kirkland, E. J. (2010). Advanced computing in electron microscopy (2 edición.). New York, Estados Unidos: Springer.
Citación estilo ChicagoKirkland, Earl J. Advanced Computing in Electron Microscopy. 2 edición. New York, Estados Unidos: Springer, 2010.
Cita MLAKirkland, Earl J. Advanced Computing in Electron Microscopy. 2 edición. New York, Estados Unidos: Springer, 2010.
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