Advanced computing in electron microscopy - Kirkland, Earl J. (New York, Estados Unidos : Springer, 2010)
Base de Datos SPRINGER
Referencias
ELEC
COMP
INGE
FISI
Keywords: Microscopía electrónica -- Simulación por computadoras; Espectroscopía; Ingeniería eléctrica; Ciencia de los materiales; Análisis numérico -- Computación; Libros electrónicos