Advanced Test Methods for SRAMs : effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies - Bosio, Alberto; Dilillo, Luigi; Girard, Patrick; Pravossoudovitch, Serge; Virazel, Arnaud (New York, NY : Springer, 2010)
Base de Datos SPRINGER
Referencias
COMP
INGE
TECN
CISO
Keywords: Circuitos electrónicos; Dispositivos de memoria; Circuitos y sistemas; Conductividad eléctrica; Amplificadores; Semiconductores; Libros electrónicos