Quantitative data processing in scanning probe microscopy : spm applications for nanometrology - Klapetek, Petr (Estados Unidos : William Andrew Publishing, 2013)
Referencias
ELEC
MECA
Keywords: Nanotecnología; Electrones; Circuitos de retroalimentación; Almacenamiento de datos; Procesamiento de datos; Procesamiento y evaluación de datos; Libros electrónicos