Scanning probe microscopy of soft matter : fundamentals and practices - Tsukruk, Vladimir V.; Singamaneni, Srikanth (Alemania : Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, 2012)
Referencias
TECN
FISI
ELEC
Keywords: Aparatos con escáneres; Microscopios; Materiales blandos; Espectroscopia; Conductividad térmica; Libros electrónicos