Defect-oriented testing for nano-metric CMOS VLSI circuits - Sachdev, Manoj; Pineda-de-Gyvez, José (Dordrecht, Países Bajos : Springer, 2007)
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Keywords: Electrónica; Circuitos integrados; Semiconductores -- Óxidos; Circuitos lógicos; Tecnología eléctrica; Pruebas analógicas; Modelado de fallas; Libros electrónicos