Integrated circuit test engineering : modern techniques - Grout, Ian A. (Londres, Inglaterra : Springer-Verlag London Limited, 2006)
Resumen y ejercicios al final de cada capítulo.
Apéndices
Incluye índice
Base de Datos PROQUEST
Referencias al final de cada capítulo.
Disponible también en línea
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Keywords: Electrónica; Circuitos integrados; Tecnología eléctrica; Microelectrónica; Circuitos microelectrónicos; Ingeniería de pruebas; Procesos de fabricación; Libros electrónicos