Cita APA

Bushnell, M. L., & Agrawal, V. D. (2000). Essentials of electronic testing for digital, memory and mixed-signal VLSI circuits (1 edición.). Nueva York ; Boston ; Países Bajos ; Londres ; Moscú: Kluwer Academic Publishers.

Citación estilo Chicago

Bushnell, Michael L., y Vishwani D. Agrawal. Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-signal VLSI Circuits. 1 edición. Nueva York ; Boston ; Países Bajos ; Londres ; Moscú: Kluwer Academic Publishers, 2000.

Cita MLA

Bushnell, Michael L., y Vishwani D. Agrawal. Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-signal VLSI Circuits. 1 edición. Nueva York ; Boston ; Países Bajos ; Londres ; Moscú: Kluwer Academic Publishers, 2000.