Essentials of electronic testing for digital, memory and mixed-signal VLSI circuits - Bushnell, Michael L.; Agrawal, Vishwani D. (Nueva York ; Boston ; Países Bajos ; Londres ; Moscú : Kluwer Academic Publishers, 2000)
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Bibliografía
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Keywords: Circuitos integrados -- Pruebas; Circuitos integrados digitales -- Pruebas; Circuitos de señal mixta -- Pruebas; Dispositivos de almacenamiento -- Pruebas; Libros electrónicos