Process capability indices for skewed populations. - Chang, Young Soon; Choi, In Su; Bai, Do Sun (New Jersey, Estados Unidos : John Wiley & Sons Ltd., 2020)
Base de Datos Wiley-Token.
Separata de: Quality and Reliability Engineering International (ISSN: 10991638), volumen 18, número 2 (2002), páginas : 383-393.
Incluye referencias al final del artículo.
Artículo de revista en línea.
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Keywords: Índices -- Capacidad; Capacidad -- Procesos; Desviación estándar.; Simulación.; Mécanica.; Separatas; Artículos de revista; Libros electrónicos.