Propiedades ópticas de películas delgadas semiconductoras : dependencia espectral del índice de refracción complejo - Amador Jara, Alvaro Antonio ([San José], C.R., 2004)
Tesis (magíster scientiae en física)-Universidad de Costa Rica. Sistema de Estudios de Posgrado. Programa de Posgrado en Física, 2004.
Keywords: SEMICONDUCTORES; PELICULAS DELGADAS; ANALISIS ESPECTRAL