Abramovici, M., Breuer, M. A., & Friedman, A. D. (1990). Digital systems testing and testable design. New York, New York: IEEE.
Citación estilo ChicagoAbramovici, Miron, Melvin A. Breuer, y Arthur D. Friedman. Digital Systems Testing and Testable Design. New York, New York: IEEE, 1990.
Cita MLAAbramovici, Miron, Melvin A. Breuer, y Arthur D. Friedman. Digital Systems Testing and Testable Design. New York, New York: IEEE, 1990.
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