Feldman, L. C., & Mayer, J. W. 1. (1986). Fundamentals of surface and thin film analysis. Englewood Cliffs, N.J.: PTC Prenctice-Hall.
Citación estilo ChicagoFeldman, Leonard C., y James Walter 1930-2013 Mayer. Fundamentals of Surface and Thin Film Analysis. Englewood Cliffs, N.J.: PTC Prenctice-Hall, 1986.
Cita MLAFeldman, Leonard C., y James Walter 1930-2013 Mayer. Fundamentals of Surface and Thin Film Analysis. Englewood Cliffs, N.J.: PTC Prenctice-Hall, 1986.
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