Echeverría, J. P., & Schmidt Díaz, V. Efectos de la medición de ondas superficiales considerando diferentes geometrías y condiciones de emplazamiento con base en la metodología frecuencia-número de onda (F-K) =: Effects of surface wave recordings considering different geometries and site conditions using frecuency-wave number technique (F-K).

Echeverría, José P., and Víctor Schmidt Díaz. Efectos De La Medición De Ondas Superficiales Considerando Diferentes Geometrías Y Condiciones De Emplazamiento Con Base En La Metodología Frecuencia-número De Onda (F-K) =: Effects of Surface Wave Recordings Considering Different Geometries and Site Conditions Using Frecuency-wave Number Technique (F-K).

Echeverría, José P., and Víctor Schmidt Díaz. Efectos De La Medición De Ondas Superficiales Considerando Diferentes Geometrías Y Condiciones De Emplazamiento Con Base En La Metodología Frecuencia-número De Onda (F-K) =: Effects of Surface Wave Recordings Considering Different Geometries and Site Conditions Using Frecuency-wave Number Technique (F-K).