La razón espectral H/V obtenida a partir de vibraciones ambientales y su correlación con la estratigrafía del subsuelo - Fonseca Hidalgo, Juan Carlos 1992- (2017)
Se establecieron correlaciones entre las razones espectrales H/V y el perfil de velocidades de onda cortante, obtenido mediante ensayos SASW, en 10 sitios de todo el país. En cada sitio se colocó un digitalizador y dos sismógrafos para que estos registraran media hora de ruido ambiental. A partir de esta información se obtuvo la razón espectral H/V. Seguidamente, se verificó que la frecuencia fundamental identificada cumpliera con los requisitos de claridad del método. Paralelamente, se determinó la frecuencia fundamental de la respuesta elástica mediante un modelo basado en el perfil de velocidades de onda cortante hasta 30 m de profundidad de cada sitio. Se compararon los valores de las frecuencias fundamentales obtenidos a partir de ambos métodos para validar los resultados. Se determinó que las frecuencias medida y modelada coinciden en los sitios donde se cumplen los requisitos del método H/V y los supuestos básicos de la teoría de propagación de ondas unidimensional. Asimismo, algunos modelos debieron ser modificados y complementados hasta la profundidad de mayor contraste de impedancias, aún si esta es mayor a 30 metros. Finalmente, se buscó una relación entre las características de las razones espectrales obtenidas y la estratigrafía de los sitios. Se hallaron 4 formas distintas de la curva de razón espectral H/V en función de la frecuencia de las ondas y se logró asociar cada una a una condición estratigráfica diferente. Una curva H/V con un pico ancho sugiere un basamento con buzamiento. Un pico claro de gran amplitud permite afirmar que existe un contraste de impedancia pronunciado. Una curva relativamente plana indica una estratigrafía uniforme. Finalmente, determinó que una curva irregular, con múltiples picos y una amplitud mayor que 2 a lo largo de una amplia gama de frecuencias es un indicador de que el sitio puede presentar inversiones en el perfil de ...