Measuring success : testing, grades, and the future of college admissions - Belasco, Andrew S.; Blalock, A. Emiko; Bowen, William Gordon 1933-2016; Brooks, Jim; Chingos, Matthew M. 1983-; Buckley, Jack 1965-; Letukas, Lynn 1983-; Wildavsky, Ben (Baltimore, Maryland : Johns Hopkins University Press, 2018)
Keywords: EXÁMENES DE ADMISIÓN A LA UNIVERSIDAD -- ESTADOS UNIDOS; ADMISION A LA UNIVERSIDAD -- ESTADOS UNIDOS