Reducción de la variabilidad de producto defectuoso en el área de SMT de la empresa General Microcircuits Inc., a través de la metodología DMAMC - Rodríguez Baltodano, Guirsley 1994- (2021)
General Microcircuits, Inc. (GMI), es una compañía multinacional, que se especializa principalmente en manufactura de tarjetas de circuitos impresos y tiene un enfoque claro en la mejora continua, por lo que constantemente se encuentra buscando oportunidades de mejora. Sin embargo, después de ser adquirida por East West, se planea que en un futuro cercano se independice, convirtiendo la casa matriz en un cliente más. De ahí la importancia y la necesidad que posee la empresa de mejorar el cumplimiento de sus indicadores, disminuir los reprocesos y cumplir con los tiempos de producción planificados. Todos sus productos son únicos y diseñados específicamente para cumplir los requerimientos de cada cliente. La tarjeta electrónica B863, es uno de ellos y corresponde al cliente tipo A, más importante de la organización, el cual además representa la mayor contribución neta. El proceso de producción de esta tarjeta presenta una variabilidad no controlada en producto defectuoso, principalmente en el área de SMT, por lo que este proyecto se centra en utilizar la metodología DMAIC, para identificar cuál de los subprocesos genera mayor efecto en la generación de no conformidades y posteriormente definir una propuesta que colabore en el control de esta variabilidad. Lo cual se evidencia en el capítulo de diagnóstico, donde se definen las posibles variables cualitativas y cuantitativas del proceso, con el fin de identificar las variables más significativas que afectan la variabilidad del proceso, lo cual se desarrolla en las etapas de Definir, Medir y Analizar. Inicialmente en la etapa de definir, se identifica que existe una ausencia de registros en todos los subprocesos a excepción de la inspección óptica automatizada y no se cuenta con los indicadores necesarios para asegurar y medir la calidad de producto final, lo que ocasiona un desconocimiento de los posibles factores que pueden...