Combinatorial pattern matching : 21st Annual Symposium, CPM 2010, New York, NY, USA, June 21-23, 2010, Proceedings, /

Detalles Bibliográficos
Formato: Libro
Lenguaje:English
Publicado: c2010.
Acceso en línea:Ver documento en línea
Descripción
Descripción Física:1 recurso en línea.
ISBN:9783642135095
Acceso:Acceso al texto completo para la comunidad de la UCR por medio de la cuenta institucional