Acondicionamiento y actualizaciòn de un Sistema de Rayos - X, marca Phillips, modelo PW173. - Fuentes, Francisco Martin; Portillo, Luis Ramón; Martinez Flores, Mario Ernesto (San Salvador, El Salvador: Universidad de El Salvador, 1999)
Fundamentos sobre difracciòn de rayos X - Los rayos X: Emisiòn de rayos X, Espectro de rayos X: Espectros continuos de provienen de fuentes bombardeadas con un haz de electrones, Espectros de lìnea caracterìsticos producidos por las fuentes de haces de electrones - Difracciòn: Difracciòn de rayos x (componentes de un sistema de refracciòn), Fuentes, Filtros para haces de rayos x, Dectores de rayos x, Procesador de señal y dispositivo de lectura - El sistema de difracciòn Phillips PW17300/00 - Diagrama en bloques del circuito electrònico de la unidad PW1730/00 - Goniometro horizontal PW1380 - Mòdulo de control de canal PW1390 - Interfaz de adquisiciòn de datos para el sistema de difracciòn Philips PW17300/00, etc.
Incluye ìndice.
Tesis (INGENIERÌA ELÈCTRICA) -- Universidad de El Salvador.
Incluye referencias bibliogràficas.
Keywords: Sistema de Rayos X