Evaluacion del uso de cadenas de escanéo basadas en latches pulsados y relojes autogenerados en el proceso de prueba de circuitos integrados digitales /
| Main Author: | |
|---|---|
| Format: | Thesis Book |
| Language: | Spanish |
| Published: |
Cartago, Costa Rica :
B. E. Rodríguez-H.,
2023.
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| Subjects: |
Sistema de Bibliotecas del TEC
| Copy | Available |
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