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1
Propiedades ópticas de películas delgadas semiconductoras : dependencia espectral del índice de refracción complejo /
por
Amador Jara, Alvaro Antonio
,
Amador Jara, Alvaro Antonio
Publicado 2004
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2
Optical diagnostics for thin film processing /
por
Herman, Irving P.
,
Herman, Irving P.
Publicado 1996
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3
Fundamentals of surface and thin film analysis /
por
Feldman, Leonard C.
,
Feldman, Leonard C.
Publicado 1986
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Institución
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Biblioteca
Universidad de Costa Rica
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Formato
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3
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1
Número de Clasificación
T - Tecnología
1
Autor
Amador Jara, Alvaro Antonio
1
Feldman, Leonard C.
1
Herman, Irving P.
1
Mayer, James Walter 1930-2013
1
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