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Nanostructure size determination in n+-type porous silicon by X-ray diffractormetry and Raman spectroscopy.
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Artículo
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Quantitative interpretation of mineralogical composition from X-ray and chemical data for the Pierre Sahle /
Libro
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Óptica /
por Ditchburn, R. W., Ditchburn, R. W.
Publicado 1982
Libro
4
Cristalografia para la difraccion electronica /
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Diffraction from materials /
Libro
6
Introduction to diffraction, information processing, and holography /
por Yu, Francis T. S. 1932-
Publicado 1973
Libro
7
Schlieren methods /
por Vasil'ev, Lev Aleksandrovich
Publicado 1971
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8
Diffraction : coherence in optics /
por Francon, Maurice 1913-
Publicado 1966
Libro
9
Modern optics /
por Guenther, Robert D.
Publicado 2018
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10
Vibrations, waves and diffraction
por Braddick, H. J.J.
Publicado 1965
Libro
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