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Caracterización y relación de las tasas de pulverización de capas delgadas formadas con la técnica de pulverización catódica utilizando magnetron. /
por
González Acuña, Ma. Gabriela
Publicado 2011
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2
Uso de difractómetro de rayos X para medir espesor de capas delgadas. /
por
Orozco Serrano, Edwin
Publicado 2011
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Biblioteca
Tecnológico de Costa Rica
2
Formato
Libro
2
Tesis
2
Número de Clasificación
T - Tecnología
2
Autor
González Acuña, Ma. Gabriela
1
Orozco Serrano, Edwin
1
Lenguaje
Spanish
2
Género
Tesis
2
Año de Publicación
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