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1
IEEE transactions on device and materials reliability /
Published 2001
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2
Aplicación del análisis de ruido flicker para la optimización estructural del silicio poroso como material básico en la producción de nuevos sensores y diodos emisores de luz /
by Ramírez Porras, Arturo
Published 2005
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3
Ajuste y calibración de medidores de potencia óptica
Thesis Book
4
Sistema fotodetector mejorado util para medir y gratificar potencia optica /
Thesis Book
5
Medidor de potencia optica /
Thesis Book
6
Optical communication systems /
Book
7
Optoelectronics : an introduction /
Book
8
Thin films on glass /
by Bach, Hans 1930-
Published 1997
Book
9
Herramienta para la detección de fallas de funcionalidad en microprocesadores debidas a sensibilidad a variaciones en la frecuencia de operación /
Book
10
Desarrollo y montaje de un procedimiento para medición de difracción usando el programa Data Studio para el LAFTLA /
Book
11
Compuertas lógicas ópticas /
Book
12
Diseño de una interfase para la realización de pruebas estructurales en microprocesadores /
Book
13
Diseño y puesta en práctica de un prototipo para metrología con UVED y fotodiodos /
Book
14
Dispositivos semiconductores /
by Singh, Jasprit, Singh, Jasprit
Published 1997
Book
15
Electro-optics laser international' 82 UK, Brighton 23-25 March 1982 : conference proceedings /
by Jerrard, H. G.
Published 1982
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16
Proceedings of a symposium on astronomical optics and related subjects : held in the University of Manchester /
Published 1956
Conference Proceeding Book
17
Dispersión de cristales líquidos en matrices de óxidos mixtos de silicio y vanadio /
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18
Advance elements of optoisolation circuits : nonlinearity applications in engineering /
by Aluf, Ofer
Published 2017
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