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1
IEEE transactions on device and materials reliability /
Publicado 2001
Seriadas
2
Aplicación del análisis de ruido flicker para la optimización estructural del silicio poroso como material básico en la producción de nuevos sensores y diodos emisores de luz /
por Ramírez Porras, Arturo
Publicado 2005
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Tesis Libro
3
Ajuste y calibración de medidores de potencia óptica
Tesis Libro
4
Sistema fotodetector mejorado util para medir y gratificar potencia optica /
Tesis Libro
5
Medidor de potencia optica /
por Sala Puig, Javier, Sala Puig, Javier
Publicado 1987
Tesis Libro
6
Optical communication systems /
por Gowar, John 1938-, Gowar, John 1938-
Publicado 1993
Libro
7
Optoelectronics : an introduction /
Libro
8
Thin films on glass /
por Bach, Hans 1930-
Publicado 1997
Libro
9
Herramienta para la detección de fallas de funcionalidad en microprocesadores debidas a sensibilidad a variaciones en la frecuencia de operación /
Libro
10
Desarrollo y montaje de un procedimiento para medición de difracción usando el programa Data Studio para el LAFTLA /
Libro
11
Compuertas lógicas ópticas /
Libro
12
Diseño de una interfase para la realización de pruebas estructurales en microprocesadores /
Libro
13
Diseño y puesta en práctica de un prototipo para metrología con UVED y fotodiodos /
Libro
14
Dispositivos semiconductores /
por Singh, Jasprit, Singh, Jasprit
Publicado 1997
Libro
15
Electro-optics laser international' 82 UK, Brighton 23-25 March 1982 : conference proceedings /
por Jerrard, H. G.
Publicado 1982
Libro
16
Proceedings of a symposium on astronomical optics and related subjects : held in the University of Manchester /
Publicado 1956
Procedimiento de la Conferencia Libro
17
Dispersión de cristales líquidos en matrices de óxidos mixtos de silicio y vanadio /
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Tesis Libro
18
Advance elements of optoisolation circuits : nonlinearity applications in engineering /
por Aluf, Ofer
Publicado 2017
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Libro
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