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1
Accelerating test, validation and debug of high speed serial interfaces /
por Fan, Yongquan
Publicado 2011
Materias: “...CIRCUITOS INTEGRADOS PRUEBAS...”
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Libro
2
An introduction to mixed-signal IC test and measurement /
por Roberts, Gordon
Publicado 2012
Materias: “...Circuitos integrados Pruebas Tesauro SIBITEC...”
Libro
3
Essentials of electronic testing for digital, memory and mixed-signal VLSI circuits /
por Bushnell, Michael L.
Publicado 2000
Materias: “...Circuitos integrados Pruebas Tesauro SIBITEC...”
Libro
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