ROBUST SCAN - BASED LOGIC TEST IN VDSM TECHNOLOGIES.

Detalles Bibliográficos
Autor principal: WAGNER, KENNETH D.
Formato: Artículo
Lenguaje:Spanish
Materias:
LEADER 00567nab a2200193 a 4500
001 000082925
005 20150817105837.0
008 101201s mx 000 0 spa d
040 |a Sistema de Bibliotecas del Tecnológico de Costa Rica 
100 1 |a WAGNER, KENNETH D. 
245 1 0 |a ROBUST SCAN - BASED LOGIC TEST IN VDSM TECHNOLOGIES. 
590 |a COMP 
650 4 |a SEMICONDUCTORES 
650 4 |a MANUFACTURA 
650 4 |a SILICON 
650 4 |a TECNOLOGIA 
655 4 |a Artículos de revista 
773 1 |t IEEE COMPUTER  |g Volumen 32 Nº 11 [NOV.1999] P. 66 
905 |a BJFF_ANA