Sistemas de inspección por rayos X /

Detalles Bibliográficos
Autor Corporativo: Mettler-Toledo
Formato: Artículo
Lenguaje:Spanish
Materias:
LEADER 00867nab a22002534ac4500
001 000123594
005 20160825165334.0
008 110309c20109999sp r 000 0|spa d
040 |a Sistema de Bibliotecas del Tecnológico de Costa Rica 
099 9 |a I 
110 2 |a Mettler-Toledo 
245 1 0 |a Sistemas de inspección por rayos X /  |c Mettler-Toledo. 
535 1 |a Sala de Colecciones abiertas 
546 |a Español 
590 |a PRIN 
590 |a R16528 
650 1 4 |a Envasado  |2 Tesauro del SIBITEC 
650 1 4 |a Industria alimentaria  |2 Tesauro del SIBITEC 
650 1 4 |a Sistemas de inspección  |2 Tesauro del SIBITEC 
650 4 7 |a Detección  |2 Tesauro del SIBITEC 
650 1 4 |a Contaminantes  |2 Tesauro del SIBITEC 
655 4 |a Artículos de revista 
773 1 |t IDE. Información del Envase y Embalaje  |g Número 583, (septiembre, 2010), páginas 12-15 
905 |a BJFF_ANA