Working model of an atomic force microscope /

Detalles Bibliográficos
Otros Autores: Bonson, Kirsten, Headrick, Randall L., Hammond, David, Hamblin, Michael
Formato: Artículo
Lenguaje:English
Materias:
LEADER 01022nab a22003374ac4500
001 000188241
005 20161024143726.0
008 120831c20119999xxu r 000 0|eng d
040 |a Sistema de Bibliotecas del Tecnológico de Costa Rica 
099 9 |a A 
245 0 0 |a Working model of an atomic force microscope /  |c Kirsten Bonson [y otros tres]. 
336 |a texto  |b txt  |2 rdacontenido 
337 |a no mediado  |b n  |2 rdamedio 
338 |a volumen  |b nc  |2 rdaportador 
535 1 |a Sala de Colecciones abiertas 
546 |a inglés 
590 |a FISI 
590 |a R17296 
650 1 4 |a Fuerza atómica 
650 1 4 |a Microscopios 
650 1 4 |a Mediciones 
650 1 4 |a Física 
650 1 4 |a Instrumentos 
655 4 |a Artículos de revista 
700 1 |a Bonson, Kirsten 
700 1 |a Headrick, Randall L. 
700 1 |a Hammond, David 
700 1 |a Hamblin, Michael 
773 1 |t American Journal of Physics.  |g Volumen 79, número 2 (February, 2011), páginas 189-192 
902 |a Gerald  |b 2012/09/07 
905 |a BJFF_ANA