A practical guide to optical metrology for thin films /

Bibliographic Details
Main Author: Quinten, Michael
Format: Book
Language:English
Published: Weinheim : Wiley-VCH Verlag GmbH & Co., 2013.
Subjects:
Description
Physical Description:211 páginas : ilustraciones, diagramas, gráficas, tablas.
Bibliography:Referencias bibliográficas
ISBN:9783527411672