A practical guide to optical metrology for thin films /
| Autor principal: | |
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| Formato: | Libro |
| Lenguaje: | English |
| Publicado: |
Weinheim :
Wiley-VCH Verlag GmbH & Co.,
2013.
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| Materias: |
Sistema de Bibliotecas del Tecnológico de Costa Rica
| Número de Clasificación: |
530.4275 |
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| Copia | Disponible |