IEEE Design & Test.

Detalles Bibliográficos
Formato: Seriadas
Lenguaje:English
Publicado: Estados Unidos : IEEE, 2013-.
Materias:
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040 |a Sistema de Bibliotecas del TEC 
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535 1 |a Disponible en la página web de la biblioteca en Bases de Datos Suscritas: IEEE Xplore® Digital Library. 
590 |a DIIN 
590 |a COMP 
650 1 7 |a Computación  |2 Tesauro SIBITEC 
650 1 7 |a Diseño  |2 Tesauro SIBITEC 
650 1 7 |a Circuitos integrados  |2 Tesauro SIBITEC 
650 1 7 |a Semiconductores  |2 Tesauro SIBITEC 
650 1 7 |a Automatización  |2 Tesauro SIBITEC 
655 4 |a Revistas electrónicas 
902 |a Xiomara  |b 2015/10/07 
903 |a Elieth  |b 2021/07/20