Estudio de la adaptación de un microscopia AFM a uno STM en el Laboratorio Nacional de Nanotecnología (LANOTEC). /

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Bolaños Madrigal, Juan Rafael
Formato: Tesis Libro
Lenguaje:Spanish
Publicado: Cartago, Costa Rica : J. Bolaños M., 2014.
Materias:
LEADER 00951nam a2200229 4500
001 000264631
005 20160427163922.0
008 160120s2014 cr m 000 0 spa d
040 |a Sistema de Bibliotecas del Tecnológico de Costa Rica 
090 |a TF 7319 
100 1 |a Bolaños Madrigal, Juan Rafael 
245 0 |a Estudio de la adaptación de un microscopia AFM a uno STM en el Laboratorio Nacional de Nanotecnología (LANOTEC). /  |c Juan Rafael Bolaños Madrigal. 
260 |a Cartago, Costa Rica :  |b J. Bolaños M.,  |c 2014. 
300 |a 1 disco de computadora :  |b diagramas, dibujos, fotografías. 
502 |a Proyecto de Graduación  |b (Licenciatura en Ingeniería Electrónica)  |c Instituto Tecnológico de Costa Rica, Escuela de Ingeniería Electrónica,  |d 2014. 
590 |a COTA 
590 |a ITCR 
590 |a ELEC 
650 4 |a Microscópios electrónicos 
650 4 |a Controlador digital 
650 4 |a Física aplicada 
902 |a Laura  |b 2016/04/27