Metrología y sus aplicaciones.

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Escamilla-Esquivel, Adolfo
Formato: Libro
Lenguaje:Spanish
Publicado: México : Grupo Editorial Patria, 2009.
Edición:Primera edición,
Materias:
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020 |a 9789708172332 
040 |a Sistema de Bibliotecas del Tecnológico de Costa Rica 
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100 1 |a Escamilla-Esquivel, Adolfo 
245 1 0 |a Metrología y sus aplicaciones. 
250 |a Primera edición,  |b primera reimpresión 2013 
260 |a México :  |b Grupo Editorial Patria,  |c 2009. 
300 |a 138 páginas :  |b ilustraciones, gráficas, tablas. 
336 |a texto  |b txt  |2 rdacontenido 
337 |a no mediado  |b n  |2 rdamedio 
338 |a volumen  |b nc  |2 rdaportador 
500 |a Incluye índice analítico, glosario 
504 |a Bibliografía 
590 |a META 
650 1 7 |a Mediciones 
650 1 7 |a Instrumentos de medición  |2 Tesauro SIBITEC 
650 1 7 |a Calibradores  |2 Tesauro SIBITEC 
650 1 7 |a Micrómetros  |2 Tesauro SIBITEC 
650 1 7 |a Tolerancia  |2 Tesauro SIBITEC 
650 1 7 |a Propiedades físicas  |2 Tesauro SIBITEC 
650 1 7 |a Propiedades térmicas  |2 Tesauro SIBITEC 
650 1 7 |a Bloques patrón  |2 Tesauro SIBITEC 
650 1 7 |a Materiales  |2 Tesauro SIBITEC 
655 4 |a Libros 
902 |a Elieth  |b 2019/09/26