Bhushan, B., Fuchs, H., & Tomitori, M. (2008). Applied scanning probe methods VIII: Scanning probe microscopy techniques (1 edición.). Berlin, Alemania: Springer.
Citación estilo ChicagoBhushan, Bharat,, Harald Fuchs, y Masahiko Tomitori. Applied Scanning Probe Methods VIII: Scanning Probe Microscopy Techniques. 1 edición. Berlin, Alemania: Springer, 2008.
Cita MLABhushan, Bharat,, Harald Fuchs, y Masahiko Tomitori. Applied Scanning Probe Methods VIII: Scanning Probe Microscopy Techniques. 1 edición. Berlin, Alemania: Springer, 2008.
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