Applied scanning probe methods VIII : scanning probe microscopy techniques /

Applied scanning probe methods VIII : scanning probe microscopy techniques /

Detalles Bibliográficos
Otros Autores: Bhushan, Bharat (Editor ), Fuchs, Harald (Editor ), Tomitori, Masahiko (Editor )
Formato: eBook
Lenguaje:English
Publicado: Berlin, Alemania : Springer, 2008.
Edición:1 edición
Materias:
Nanotecnología
Espectroscopia
Microscopía
Polímeros
Interfaces
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